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晶振外壳规格30x25X12.7厂家讲恒温晶振与温补晶振都属于晶体振荡器，都是有源晶振，所以组成的震荡电路都需要电源加入才能工作。在电路设计中，如何正确的选择匹配电路的晶振对成品性能的影响重要。一、从工作原理上区别：恒温晶振，由于晶体振荡器的震荡频率会随着温度的变化而变化，故为了保持频率的稳定性，将晶振控制在一个恒定的温度下工作以此来提升晶振的相频特性。温补晶振，由于晶体振荡器的震荡频率会随着温度的变化而变化，为了抵消温度对晶振频的影响，控制晶振的谐振电容随温度变化而变化，抵消温度晶体影响提升频率稳定性。
二、从测量精度上区别：一般的恒温晶振要比温补晶振频率稳定度高两个数量级以上。如温补晶振一般能达到-7量级，而恒温晶振可达到-9量级。因此恒温晶振一般用于测量仪器，如频率计、信号发生器、网络分析仪等。而温补晶振的开机特性好。
晶振外壳的尺寸特点以及性能影响力有多大一、晶振外壳的尺寸特点
晶体振荡器被广泛用于各种模拟和数字电路中作为基准时钟源，其质量的好坏直接影响到电路工作状况，而晶振外壳(也称晶振帽)冲压品质是影响晶振性能的主要因素之一。晶振外壳采用冲床连续冲压成型，经大量观察和分析发现，主要缺陷有内底面与顶面的凹坑、内底面与顶面的划痕，侧面裂口和侧面挠曲。
之前的研究者针对前3种缺陷，应用计算机视觉检测技术设备了晶振外壳缺陷检测系统，通过图像的分析和处理判断是否有缺陷，并且设计了晶振外壳缺陷检测系统的硬件平台。几基本实现晶振外壳缺陷的在线自动检测，而且具有很好的检测准确性。但是对于挠曲缺陷，由于整个外壳尺寸比较小；小挠曲肉眼很难发现和判断。而且这种挠曲缺陷与面缺陷有很大区别，侧面和顶面图像上不能反映挠曲缺陷的存在，因而以前的方法对该挠曲缺陷检测是无效的。本文在分析原有的检测方法的基础上，研究晶振外壳的侧面挠曲缺陷，提出检测侧面挠曲缺陷的方法。
二、晶振外壳对晶振的性能影响力有多大
晶振外壳对晶振的性能影响力有多大?晶体振荡器被广泛用于各种模拟和数字电路中作为基准时钟源，其质量的好坏直接影响到电路工作状况，而晶振外壳(也称晶振帽)冲压品质是影响晶振性能的主要因素之一。
晶振外壳采用冲床连续冲压成型，经大量观察和分析发现，主要缺陷有内底面与顶面的凹坑、内底面与顶面的划痕，侧面裂口和侧面挠曲。之前的研究者针对前3种缺陷，应用计算机视觉检测技术设备了晶振外壳缺陷检测系统。侧面挠曲严重同样可以影响晶振的质量，是指外壳主要侧面不平行。理论上这种侧面的挠曲缺陷使得本来与光源平行的内侧面发生小角度倾斜，其在图像上的突出表现是晶振外壳凸缘内侧边缘变粗和不平行。
晶振外壳的表面质量对晶振的性能有较大的影响。针对工业现场中晶振外壳挠曲缺陷的特点，我们可以检测晶振外壳内侧边缘间的距离，如果某连续的一段检测值超出合格范围，就判定该零件不符合要求，即存在挠曲缺陷。
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