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新一代的赛默飞世尔科技 Helios 5 DualBeam FIB双束电镜具有 Helios 5 产品系列高性能成像和分析性能。它经过精心设计，可满足材料科学研究人员和工程师对广泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是具有挑战性的样品。
Helios 5 DualBeam FIB双束电镜重新定义了高分辨率成像的标准：较高的材料对比度，快、简单、准确的高质量样品制备，用于 S/TEM 成像和原子探针断层扫描（APT）以及高质量的亚表面和 3D 表征。在 Helios DualBeam 系列久经考验的性能基础上，新一代的 Helios 5 DualBeam 进行了改进优化，所有这些都旨在确保系统处于手动或自动工作流程的运行状态。
更易于使用：
Helios 5 是所有体验级别用户容易使用的 DualBeam。操作员培训可以从几个月缩短到几天，系统设计可帮助所有操作员在各种高级应用程序上实现一致、可重复的结果。
改善时间和结果：
Helios 5 DualBeam 现在包括 FLASH，这是一种调整图像的新概念。对于传统的显微镜，每次操作员需要获取图像时，必须通过迭代对中仔细调整显微镜。使用 Helios 5 DualBeam，屏幕上的简单手势将激活 FLASH，将自动调整这些参数。自动调整可以显着提高通量、数据质量并简化高质量图像的采集。
更多信息：FIB双束电镜
http://www.opton17.com/SonList-2220645.html
https://www.chem17.com/st439186/erlist_2220645.html